集成6个GaN晶体管的单芯片逆变器
松下开发出了由采用GaN类半导体的晶体管构成的逆变器IC,并在半导体制造技术相关国际学会“2009 IEEEInternational Electron Devices Meeting(IEDM2009)”上予以发布(论文编号7.6)(图1)。论文称,这种逆变器IC可用来驱动马达(图2)。逆变器IC的特性优良,逆变器转换损失为4.8%,与采用IGBT的以往逆变器电路8.3%的转换损失相比,损失减少了约42%(20W输出功率时)。

图1GaN逆变器IC的芯片照片

图2马达驱动时逆变器IC的输出波形
由于具有效率高、以及可在高温下驱动之类的特点,采用GaN及SiC之类宽禁带(Wide BandGap)半导体的功率器件越来越受到关注。此前是在晶体管以及肖特基势垒二极管(SBD)之类的元件层面上进行开发,如今该领域的集成化时代似乎已经到来。集成化使得晶体管之间靠得更近,因而只需较短的布线即可,因此,与将晶体管元件嵌入到底板上、元件间用电线进行连接时相比,可降低寄生电感。论文称,与IGBT等硅类功率器件相比,GaN类器件不仅具有导通电阻较低的特点,而且通过集成化降低寄生电感之后,还可制造更高速的开关。
在硅底板上集成GaN晶体管
此次松下在学会上发布的逆变器IC,是在硅底板上集成了6个由GaN类半导体制成的常闭(NormallyOff)型电场效应晶体管(FET)元件而成的。当源漏极电压为正电压时,这种GaN晶体管充当电场效应晶体管,为负电压时,则充当二极管。因此,组装逆变器电路时无需使用快恢复二极管(FastRecoveryDiode),芯片上只集成晶体管即可。也就是说,成了“单芯片逆变器”(图3)。由于所集成的晶体管为横型FET,因此晶体管间的布线只在底板表面上进行即可,这也对集成化起到了促进作用。
如果考虑到马达驱动之类的使用状况,那么,元件单体以及元件之间必需确保较高的耐压。其中,在像此次这种IC的情况下,由于元件靠得近,因此元件间有耐压下降之虞。松下发布的逆变器IC为了确保这种元件间耐压,在晶体管间注入铁(Fe)离子,以形成绝缘区(图4)。由此,元件间获得了900V的耐压。该公司的学会发布资料显示,与采用碳(C)离子以及硼(B)离子形成绝缘区时相比,采用铁离子更具热稳定性(图5)。另外,晶体管单体的耐压确保达到了700V.该公司表示,由于设在用来布设电路的GaN类半导体层与硅底板之间的缓冲层比以前加厚,因此获得了700V的耐压。GaN晶体管的导通电阻为2.0mΩcm2.
逆变器IC的芯片尺寸为2.5mm×2.7mm.所集成晶体管的栅极宽度为25mm.硅底板采用150mm(6英寸)晶圆,通过MOCVD装置,结晶生成缓冲层、i-GaN层、i-AlGaN层以及作为栅极的p-AlGaN层等GaN类半导体层,并在此形成晶体管。论文称,通过利用多层结构的缓冲层,得到了无裂缝(Crack)的GaN类半导体层。
此次的开发成果是在与日本新能源及产业技术综合开发机构(NEDO)的联合研究项目中取得的。
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